olemus
objekti ultraheliga skaneeriv mikroskoop, mis kasutab pinnareljeefi või pinnaaluse struktuuri esituseks impulsse sagedusega1 MHz -- 2 GHz; tüüpiline lainepikkuste ala on 200 μm - 200 nm; vahendajaks on vesi või muu vedelik; kõrgematel sagedustel (kuni 100 nm) on eraldusvõime suurem ja äbistussügavus väiksem
= a microscope that employs very high or ultra high frequency ultrasound

rakendusi
defektoskoopia ja kvaliteedikontroll (keevisliited, mikroelektroonika, lamineeringud), materjalianalüüs (teralisandid, kiudstruktuur jm), võltsingutuvastus, bioloogia- ja meditsiiniuuringud

ülevaateid
https://en.wikipedia.org/wiki/Acoustic_microscopy
http://www.soest.hawaii.edu/HIGP/Faculty/zinin/Zi-SAM.html
http://www.imim.pl/PHD/www.imim-phd.edu.pl/contents/Relevant%20Articles/Scanning%20acoustic%20microscopy%20theory%20and%20applications%20to%20material%20characterization%20S%20Pawlak.pdf
http://biophys.w3.kanazawa-u.ac.jp/References/Acoustics/Acoustic%20Microscopy.pdf
https://application.wiley-vch.de/books/sample/3527407448_c01.pdf