AKIT
English Eesti

English acoustic microscope

Eesti akustiline mikroskoop

mikroskoop, mis pinnareljeefi või pinnaaluse struktuuri kujutise saamiseks skaneerib objekti kõrgsagedusliku 1 MHz - 2 GHz ultraheli impulssidega vee vm vedeliku vahendusel; kõrgematel sagedustel on eraldusvõime suurem (kuni 100 nm, tüüpiline diapasoon on 200 μm - 200 nm), kuid läbistussügavus väiksem; rakendatakse defektoskoopias ja kvaliteedi kontrolliks (keevisliited, mikroelektroonika, lamineeringud), materjalianalüüsiks (teralisandid, kiudstruktuur jm), võltsingutuvastuseks, bioloogia- ja meditsiiniuuringuteks; üksikasju vt näiteks
https://www.youtube.com/watch?v=XUUeOu4OFDI

https://www.youtube.com/watch?v=IYawA46vKnw

http://www.pva-analyticalsystems.com/fileadmin/pdf/publikationen/overview_II.pdf

http://www.soest.hawaii.edu/HIGP/Faculty/zinin/Zi-SAM.html

https://cdn2.hubspot.net/hub/63951/file-15443064-pdf/docs/sam_brochure_2010-04.pdf