olemus
objekti ultraheliga skaneeriv mikroskoop
pinnareljeefi või pinnaaluse struktuuri esituseks:
- impulsside sagedus 1 MHz - 2 GHz
- tüüpiline lainepikkuste ala on 200 μm - 200 nm
- vahendajaks on vesi või muu vedelik
- kõrgematel sagedustel (kuni 100 nm) on
------ eraldusvõime suurem
------ läbistussügavus väiksem
=
a microscope that employs very high or ultra high frequency ultrasound

rakendusi
- defektoskoopia ja kvaliteedi kontroll
(keevisliited, mikroelektroonika, lamineeringud)
- materjalianalüüs (teralisandid, kiudstruktuur jm)
- võltsingutuvastus
- bioloogia- ja meditsiiniuuringud

ülevaateid
https://www.youtube.com/watch?v=XUUeOu4OFDI

https://en.wikipedia.org/wiki/Acoustic_microscopy

http://www.soest.hawaii.edu/HIGP/Faculty/zinin/Zi-SAM.html

http://www.imim.pl/PHD/www.imim-phd.edu.pl/contents/Relevant%20Articles/Scanning%20acoustic%20microscopy%20theory%20and%20applications%20to%20material%20characterization%20S%20Pawlak.pdf

http://biophys.w3.kanazawa-u.ac.jp/References/Acoustics/Acoustic%20Microscopy.pdf

https://application.wiley-vch.de/books/sample/3527407448_c01.pdf