AKIT
English Eesti

acoustic microscope

akustiline mikroskoop

olemus
objekti ultraheliga skaneeriv mikroskoop
- pinnareljeefi või pinnaaluse struktuuri esituseks
- impulsside sagedus 1 MHz - 2 GHz
- tüüpiline lainepikkuste ala on 200 μm - 200 nm
- vahendajaks vesi vm vedelik
- kõrgematel sagedustel (kuni 100 nm) on
------ eraldusvõime suurem
------ läbistussügavus väiksem

rakendusi
- defektoskoopia ja kvaliteedi kontroll
(keevisliited, mikroelektroonika, lamineeringud)
- materjalianalüüs (teralisandid, kiudstruktuur jm)
- võltsingutuvastus
- bioloogia- ja meditsiiniuuringud

täpsemalt
https://www.youtube.com/watch?v=XUUeOu4OFDI

http://www.soest.hawaii.edu/HIGP/Faculty/zinin/Zi-SAM.html

https://www.microscopemaster.com/acoustic-microscopy.html

https://www.britannica.com/technology/acoustic-microscope

http://www.imim.pl/PHD/www.imim-phd.edu.pl/contents/Relevant%20Articles/Scanning%20acoustic%20microscopy%20theory%20and%20applications%20to%20material%20characterization%20S%20Pawlak.pdf

https://www.researchgate.net/publication/275209905_An_Overview_of_Scanning_Acoustic_Microscope_a_Reliable_Method_for_Non-destructive_Failure_Analysis_of_Microelectronic_Components

https://pdfs.semanticscholar.org/00fa/39fbd0846c01bcecb88515cf104804423e67.pdf